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非接觸式熱物性（熱擴散率）測量裝置 TA35型的原理分析
熱物性測量裝置 熱波分析儀
TA35型
[特點]
?非接觸式測量，不受接觸（熱）電阻的影響
?測量范圍寬～從有機薄膜到金剛石?
?單個裝置可測量水平（XY）和垂直（Z）方向
?垂直（Z ））方向映射測量
(1) 周期性加熱源 (P0eiωt) 以熱擴散率 α 對樣品表面進行點加熱
(2) 加熱點溫度的交流分量表示為 Tac = P0eiωt
(3) 周期性加熱源。 (P0eiωt) 置于周圍區(qū)域，激發(fā)溫度傳播可以用以下公式表示。
(4) c：單位體積比熱容，?：距點熱源的距離
k 為溫度波的波數(shù)，用下式表示：
(5) 式中μ為熱擴散長度。因此，相位變?yōu)橐韵碌仁健?/span>
熱波分析儀 TA 可滿足客戶開發(fā)現(xiàn)場的需求。
由于無需將測量樣品的形狀與設備相匹配，因此可以顯著減少樣品制備的工作量和成本。
垂直測量/水平測量
<應用>
電子元件散熱材料的評價
半導體激光電極的評價
發(fā)熱材料的評價
硬質合金工具涂層的評價等
你了解各向異性嗎？樹脂與各種填料(A1N、SiO 2 、SiC、CNT)的復合材料的熱導率
根據(jù)混合比例的不同而發(fā)生很大變化，因此測量熱擴散率非常重要。
該設備可以對同一工件和樣品同時進行三個方向（X、Y和Z）的連續(xù)測量，非常適合測量想要了解各向異性的樣品。 可用于
測量電子電路中使用的散熱片、碳纖維增強樹脂、高熱電樹脂、聚酰亞胺片等各種樣品。
測量目標 測量結果
層壓材料是由具有不同導熱系數(shù)的材料分層制成的，因此預計傳熱將根據(jù)粘合的均勻性而發(fā)生很大變化。
然而，傳統(tǒng)上精確測量層壓材料的導熱率極其困難，這使其成為開發(fā)過程中的問題之一。
該裝置連續(xù)獲取并繪制垂直相位延遲，從而可以相對評估層壓材料的熱傳導。
它不僅適用于材料熱物理性質的相對評估，而且適用于檢查零件的缺陷和檢查均勻性。
測量目標 測量結果
熱導率分布評價（定性值） *可以將熱導率的均勻程度繪制成圖表。
