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使用熒光 X 射線分析儀進行在線膜厚分析的實例

發布日期：2024-11-04 瀏覽次數：480

使用熒光 X 射線分析儀進行在線膜厚分析的實例

采用 Hours Tech 無損分析技術的在線膜厚分析儀

我們想介紹一款利用我們的無損分析技術的在線膜厚分析儀。

OURSTEX100TA-F 照片

　【特征】
● 可在線分析膜厚
● 電源僅AC100V，節電裝置
● 可自由定制以滿足您的需求
● 配備SDD檢測器，無需液氮或冷卻水 [應用實例]
● 高性能成膜的在線膜厚分析
● 金屬箔的在線分析
● 溶液/液體等的在線分析。

測量沉積膜的厚度是表面處理功能材料開發和質量控制的重要評估技術。
熒光X射線分析儀“OURSTEX100FA"可以改裝為在線使用，以便將測量頭連接到薄膜沉積設備上。
該測量頭內的探測器和X射線管用水冷卻以散熱。

設備安裝

輸出顯示示例

設備規格（標準）

測量目標	電影
電源	交流100V~240V
安裝環境溫度	5~27℃
設備冷卻	水冷*1
X射線額定輸出	40(kV)-1.0(mA)，最大40(W)
測量頭尺寸	266(寬)×136(深)×160(高)mm *2

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聯系方式

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