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| 項目 | 參數 | 備注 |
|---|---|---|
| 核心器件 | 高輸出型 850nm SLD（超發光二極管） | 兼具高輸出與低相干性 |
| 中心波長 | 850nm±20nm | 適配 850nm 主流光互連場景 |
| 輸出功率 | 約 2mW（APC - SM 光纖端） | 滿足高靈敏度測量需求 |
| 光譜寬度 | 半峰全寬約 30nm（典型值） | 寬光譜適配多維度檢測 |
| 功率穩定性 | 1 小時內≤0.5%，12 小時內≤2%（老化后） | 元件溫控 + APC 電路保障長期穩定 |
| 光學接口 | FC/APC（單模光纖） | 適配主流測試系統，低回損設計 |
| 工作模式 | 連續波（CW） | 支持長時間不間斷測量 |
| 核心優勢 | 低相干性、高穩定性、寬波段輸出 | 有效抑制反射干擾，適配精密測量 |
低相干抗干擾設計：SLD 的低相干特性大幅降低測量中反射光干擾，尤其適合光纖對準損耗、聚合物波導插入損耗等易受反射影響的場景。
高精度穩控系統：集成元件級溫度控制與自動功率控制（APC），在環境波動下仍能維持功率與波長穩定，滿足工業長期在線測試與科研高精度實驗需求。
寬光譜適配性：30nm 典型半峰全寬覆蓋 850nm 波段關鍵譜段，適配近場光斑（NFP）、遠場光斑（FFP）等空間特性測量，以及多模光纖 / 波導的帶寬評估。
高兼容性接口：FC/APC 單模光纖輸出，可直接對接光功率計、光譜儀、光器件測試平臺，適配自動化測試系統集成。
聚合物光布線波導插入損耗測量：低相干性規避波導端面反射誤差，寬光譜適配不同波導結構的損耗評估，助力車載、數據中心光互連鏈路驗證。
光纖對準與耦合損耗測試：低反射干擾特性提升對準精度，適配多芯光纖、陣列波導等高精度耦合場景，保障光模塊封裝良率。
NFP/FFP 測量：寬光譜輸出配合光斑分析系統，實現光器件近場、遠場光斑分布與發散角測量，用于光模塊、光纖連接器的質量管控。
多模光纖帶寬與損耗評估：850nm 波長匹配多模光纖通信窗口，寬光譜可模擬實際傳輸光源，用于光纖鏈路的一致性測試。
光探測器響應度標定：穩定輸出與寬光譜適配光電探測器的光譜響應測試，為探測器研發與生產提供標準光源。
無源光器件（耦合器、分路器）插損 / 回損測試：低相干性降低測試系統的串擾，提升插損測量精度至 0.01dB 級別。
光學相干斷層掃描（OCT）：低相干光源適配生物組織、材料內部結構成像，850nm 波段在淺表層成像中兼顧穿透性與分辨率。
光纖傳感系統：寬光譜輸出可提升分布式傳感（如 OTDR 改進型）的空間分辨率，適配結構健康監測、溫度 / 應變傳感等場景。
光譜分析輔助光源：用于近紅外光譜儀的校準，或作為寬波段激發光源，適配材料光學特性研究。
相比 LD 光源：SLD 低相干性規避反射干擾，寬光譜適配多參數測量，適合復雜鏈路測試。
相比 LED 光源：輸出功率更高（約 2mW vs 百 μW 級），穩定性更優，適配高精度測量。
相比同波段 SLD 光源：溫控與 APC 協同設計，12 小時穩定性≤2%，滿足工業級長期測試需求。
場景匹配：優先用于 850nm 光互連測量、光器件高精度測試、低反射干擾需求的場景；若需更高功率（如＞5mW），可考慮定制化模塊。
系統集成：搭配光功率計、光譜儀時，選用 FC/APC 接口適配，減少回損影響；建議預熱 1 小時后進行精密測量，保障數據穩定性。
維護要點：避免長時間空載輸出，定期清潔光纖端面，防止灰塵導致的功率波動與器件損傷。
